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DX-9B型
功能：
该仪器是半自动型角度测量仪,用于测定单晶材料的表面缺陷。单片机系统采集的实时数据传送给计算机分析系统进行数据处理进而得到峰位角和半峰宽（FWHW）值，以此判断晶面表面是生长的完整性。
特点：该设备具有检测过程无破坏性，重复性检测精度高，准确性高等特点，使检测简单、快捷，使用方便。
技术参数：
项目 | 参 数 |
输入电源 | 单相交流220V，50Hz，0.3KW. |
大管电压 | 30kV |
管电流 | 0-5mA连续可调 |
探测器 | 闪烁探测器，工作电压高为DC1000V。 |
X射线管 | 铜靶，风扇冷却，阳极接地。 |
测定角度 | 2θ=－10～120°，θ=－5～60°。 |
综合精度 | 回摆曲线测定精度为±5″（用标准石英片10ī1抛光面或蓝宝石抛光片测量）。 |
小读数 | 1″ |
测试速度 | 一般样品测一次需用时间18秒（扫描角度范围±5ˊ），可测一次或者多次，样品不动，反复多次测量同点重复性≤±1″（用标准石英抛光片 10ī1面或蓝宝石衬底级抛光片测量）。 |
数据采集频率 | 每1〞(1/3600度)采集一次数据。 |
存储功能 | 电脑自动记录每次测量结果，需保存测试记录时，点击转存按钮，将所有记录保存在excel表中。 |
外形尺寸 | 主机750（长）×682（宽）×690（高）mm 电器930（长）×790宽）×780（高）mm |
仪器重量 | 140kg。 |
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